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제품정보 및 연구개발

HOME>제품정보및연구개발>제품정보>계측기 현황

  • 자외선-가시광선 분광광도계(UV-Visible, Ultraviolet-Visible Spectrophotometer)

  • 도금액 첨가제의 함량을 측정하는 장비

  • X선 형광 유해물질 분석기(ED-XRF, Hazardous Substance Spectrometer)

  • 원재료 수입검사 또는 출하검사 시 유해물질의 함량 측정하는장비(RoHs)

  • 형광 X-ray 도금두께측정기(XRF, Coating Thickness Gauge)

  • 제품의 도금의 두께 및 도금층 함량을 측정하는 장비

  • 전자주사현미경(SEM, Scanning Electron Microscope)

  • 고배율로 제품 단면 및 표면 조직을 확인하는 장비

  • 유도결합플라즈마 분석기(ICP, Inductively Coupled Plasma Spectrometer)

  • 도금액, 완제품 함량측정 및 유해물질(Pb, Cd)측정하는 장비

  • OES(유도플라즈마 분광분석기)

  • 고상 원재료의 순도를 분석하는 장비